| 发明名称 |
METHOD FOR PREVENTING PATTERN DEFECTS OF SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR20050116755(A) |
申请公布日期 |
2005.12.13 |
| 申请号 |
KR20040041984 |
申请日期 |
2004.06.08 |
| 申请人 |
DONGBUANAM SEMICONDUCTOR INC. |
发明人 |
LEE, IL HO |
| 分类号 |
H01L21/304;H01L21/027;(IPC1-7):H01L21/304 |
主分类号 |
H01L21/304 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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