发明名称 | 测量具有直线外形物体的光学仪器 | ||
摘要 | 测量至少有一个直线边界或侧面(4a、4b)与给定方向(y)平行的物体(4)的仪器,其包括:激光源(1)它发射的辐射(2、2a)照射到所说的边界或侧面上;第一柱面会聚透镜(5),其准线与方向(y)平行,置于物体(4)的下游;空间滤光片(6)置于第一会聚透镜(5)的焦面(A);第二会聚透镜(7)置于空间滤光片(6)的下游;及光敏装置(8),其置于第二会聚透镜(7)的焦面(F)。 | ||
申请公布号 | CN1230661C | 申请公布日期 | 2005.12.07 |
申请号 | CN02802049.9 | 申请日期 | 2002.04.05 |
申请人 | 平面系统有限公司 | 发明人 | E·M·皮里诺利 |
分类号 | G01B11/10;G01B11/04 | 主分类号 | G01B11/10 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 吴立明;张志醒 |
主权项 | 1.测量物体(4)的仪器,物体(4)至少有一个与给定方向(y)平行、基本上呈直线的轮廓或边界(4a、4b),该仪器包括:激光源(1),其能够发射沿垂直于所述给定方向(Y)的一个第二方向(Z)准直的光束;和一个放大器(3),该放大器(3)放大光束(2)以获取与该第二方向(Z)平行定向的放大光束(2a),所述放大光束(2a)照射到所说的至少一个边界或轮廓(4a、4b)上;-第一会聚透镜装置(5),其置于物体(4)的下游;-空间滤光片装置(6),其置于第一会聚透镜(5)的焦面(A)上;-第二会聚透镜装置(7),其置于空间滤光片装置(6)的下游;-光敏装置(8),其置于第二会聚透镜装置(7)的焦面(F)上;其特征在于所说的第一会聚透镜装置(5)包括至少一个柱面透镜(5),其准线与所说的给定方向(y)相平行。 | ||
地址 | 意大利都灵 |