发明名称 |
Objektivlinse für einen geladenen Partikelstrahl |
摘要 |
Es ist eine Objektivlinse (2) für einen geladenen Partikelstrahl offenbart. Das Objektivlinsensystem (20) der Objektivlinse (2) besteht aus einer Linsenwicklung (21) und einem Eisenkreis (22), wobei der Eisenkreis (22) einen unteren Polschuh (25) trägt, der konisch ausgebildet ist und gegenüber einer Oberfläche (6a) des Wafers (6) vorgesehen ist. Ein Stützzylinder (23) umgibt das Objektivlinsensystem (20), wobei sein unterer Teil ein Messsystem (24) zur Bestimmung der Höhenlage der Oberfläche (6a) des Wafers (6) umfasst.
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申请公布号 |
DE102004019833(A1) |
申请公布日期 |
2005.11.17 |
申请号 |
DE200410019833 |
申请日期 |
2004.04.23 |
申请人 |
LEICA MICROSYSTEMS LITHOGRAPHY GMBH |
发明人 |
ELSTER, THOMAS;HAHMANN, PETER;KIRSCHSTEIN, ULF-CARSTEN;KRAUHS, DOROTHEE;FORTAGNE, ANDRE |
分类号 |
H01J37/141;(IPC1-7):H01J37/141 |
主分类号 |
H01J37/141 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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