Probe for manufacturing probe for testing flat pannel display, probe thereby, probe assembly having its,申请号KR20030007654-传众专利搜索

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发明名称	Probe for manufacturing probe for testing flat pannel display, probe thereby, probe assembly having its
摘要
申请公布号	KR100517729(B1)	申请公布日期	2005.09.29
申请号	KR20030007654	申请日期	2003.02.07
申请人		发明人
分类号	G01M11/00;(IPC1-7):G01M11/00	主分类号	G01M11/00
代理机构		代理人
主权项
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