发明名称 同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器
摘要 一种同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器,包括:长周期光纤光栅LPFG<SUB>A</SUB>、LPFG<SUB>B</SUB>和LPFG<SUB>C</SUB>,单模光纤,用单模光纤把长周期光纤光栅LPFG<SUB>A</SUB>、LPFG<SUB>B</SUB>和LPFG<SUB>C</SUB>相互级联,级联时长周期光纤光栅LPFG<SUB>C</SUB>处于长周期光纤光栅LPFG<SUB>A</SUB>和LPFG<SUB>B</SUB>之间,并且长周期光纤光栅LPFG<SUB>A</SUB>、LPFG<SUB>B</SUB>谐振波长对弯曲最敏感的方向相互交叉45°夹角。本发明同时实现了弯曲曲率和弯曲方向的测量,传感器体积小、成本低、全兼容于光纤、能容易地埋入被测工程该结构。
申请公布号 CN1664495A 申请公布日期 2005.09.07
申请号 CN200510024426.1 申请日期 2005.03.17
申请人 上海交通大学 发明人 王义平;陈建平;饶云江
分类号 G01B11/24 主分类号 G01B11/24
代理机构 上海交达专利事务所 代理人 王锡麟;王桂忠
主权项 1、一种同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器,包括:长周期光纤光栅LPFGA(1)、LPFGB(2)和LPFGC(3),单模光纤(4),其特征在于,用单模光纤(4)把长周期光纤光栅LPFGA(1)、LPFGB(2)和LPFGC(3)相互级联,级联时长周期光纤光栅LPFGC(3)处于长周期光纤光栅LPFGA(1)和LPFGB (2)之间,并且长周期光纤光栅LPFGA(1)、LPFGB(2)谐振波长对弯曲最敏感的方向相互交叉45°夹角。
地址 200240上海市闵行区东川路800号