发明名称 | X射线奥氏体测量标定试样的制备方法 | ||
摘要 | 一种用于材料分析测试技术领域的X射线奥氏体测量标定试样的制备方法,本发明具体步骤如下:(1)粉末颗粒尺寸筛选:对奥氏体粉末和铁素体粉末的粒颗进行筛选;(2)混粉:将奥氏体粉末和铁素体粉末放入无水酒精中,按照奥氏体体积分数,利用机械混合方式,将奥氏体粉末与铁素体粉末均匀地混合;(3)热压成型:在高温及真空状态下,将混合粉末热压成型为块体材料;(4)加工处理:利用上述块体材料加工出标定试样,在真空炉中进行退火处理。本发明所制备的X射线奥氏体测量标定试样,用于标定X射线衍射系统。标定试样表面美观,不易生锈,携带方便,奥氏体含量长期保持稳定,可以提高测量结果的可靠性。 | ||
申请公布号 | CN1648646A | 申请公布日期 | 2005.08.03 |
申请号 | CN200510023778.5 | 申请日期 | 2005.02.03 |
申请人 | 上海交通大学 | 发明人 | 姜传海;洪波;余震 |
分类号 | G01N23/20;B22F3/00 | 主分类号 | G01N23/20 |
代理机构 | 上海交达专利事务所 | 代理人 | 王锡麟;王桂忠 |
主权项 | 1、一种X射线奥氏体测量标定试样的制备方法,其特征在于,具体步骤如下:(1)粉末颗粒尺寸筛选:对奥氏体粉末和铁素体粉末的粒颗进行筛选,使获得的粉末颗粒尺寸在2μm~5μm范围内;(2)混粉:按照奥氏体体积分数,利用机械方式,在无水酒精溶液中,将奥氏体粉末与铁素体粉末均匀地混合;(3)热压成型:在真空中对混合粉末进行加热,将奥氏体粉末与铁素体粉末热压成型,获得块体材料;(4)加工处理:利用上述块体材料加工成X射线奥氏体测量标定试样,在真空炉中进行充分加热退火处理。 | ||
地址 | 200240上海市闵行区东川路800号 |