| 发明名称 | 线圈退化诊断方法和线圈退化诊断装置 | ||
| 摘要 | 根据本发明的线圈退化诊断方法，用绝缘层覆盖直接用介质冷却的导体，线圈由要安装在绝缘层中的内部电极构成，AC电压加在线圈的导体上，通过面对线圈的电位测量探头测量内部电极的电位，并且如果测得的电位高于正常线圈的电位，则确定介质从导体泄漏到绝缘层，并且其绝缘退化。根据上述结构，可以提供改善的线圈退化诊断方法和适用于该诊断方法的改善的线圈退化诊断装置，通过简便的过程，能够容易、精确和可靠的检测当用水直接冷却导体的线圈由于水从导体泄漏到绝缘层中产生的绝缘退化。 | ||
| 申请公布号 | CN1650185A | 申请公布日期 | 2005.08.03 |
| 申请号 | CN03809365.0 | 申请日期 | 2003.02.17 |
| 申请人 | 株式会社东芝;东芝植物系统和服务公司 | 发明人 | 井上良之;长谷川博;高桥伸二;小川浩昭;关户忍 |
| 分类号 | G01R31/34;G01R31/06;G01R31/12 | 主分类号 | G01R31/34 |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 王英 |
| 主权项 | 1、一种线圈退化诊断方法，其中用绝缘层覆盖直接用介质冷却的导体，线圈由导体和要安装在绝缘层中的内部电极构成，AC电压加在线圈的导体上，通过面对线圈的电位测量探头测量所述内部电极的电位，并且如果测得的电位高于正常线圈的电位，则确定所述介质从导体泄漏到绝缘层，并且其绝缘退化。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||