发明名称 DISPLACEMENT, YAW AND PITCH MEASURING METHOD AND MEASURING APPARATUS THEREFOR
摘要
申请公布号 KR20050072340(A) 申请公布日期 2005.07.11
申请号 KR20040000734 申请日期 2004.01.06
申请人 KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE 发明人 KIM, JAE WAN;EOM, TAE BONG
分类号 G01B11/00;G01B9/02;(IPC1-7):G01B11/00 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
地址