| 发明名称 |
THE MONITORING METHOD FOR FORMING THE GATE OF SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR20050071072(A) |
申请公布日期 |
2005.07.07 |
| 申请号 |
KR20030101896 |
申请日期 |
2003.12.31 |
| 申请人 |
DONGBUANAM SEMICONDUCTOR INC. |
发明人 |
KOH, KWAN JU |
| 分类号 |
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
