发明名称 |
红外序列图像历史趋势分析方法 |
摘要 |
红外序列图像历史趋势分析方法,属于设备故障诊断领域,解决红外热图像配准问题,此基础上进行历史趋势分析。本发明步骤为:1将待分析设备不同时期拍摄的红外热图像整理到一个分析文件夹中;2用户手工输入定位点,利用仿射变换矩阵、投影变换矩阵或二次型变换矩阵,然后用双线性内插,对图像几何校正,按照参考图像的空间位置配准;3利用热像仪“面扫描”的特点,在图像上搜索,得到各兴趣点位置及温度,绘出并显示该设备在此兴趣点不同时期温度的变化曲线图。本发明实现了设备红外热图的历史趋势分析,为红外热像仪增添动态分析能力;还可以通过与历史温度变化情况的比较观察出异常的温度变化发现故障早期征兆,防范于未然。 |
申请公布号 |
CN1632481A |
申请公布日期 |
2005.06.29 |
申请号 |
CN200410061383.X |
申请日期 |
2004.12.17 |
申请人 |
华中科技大学 |
发明人 |
王晓宇;陈吉红;彭芳瑜;黄植红 |
分类号 |
G01J5/00;G06F3/00;G06K9/20 |
主分类号 |
G01J5/00 |
代理机构 |
华中科技大学专利中心 |
代理人 |
方放 |
主权项 |
1.一种红外序列图像历史趋势分析方法,依序包括下述步骤:(1)将待分析设备的不同时期拍摄的红外热图像整理到一个分析文件夹中;(2)用户手工输入定位点,利用仿射变换矩阵、投影变换矩阵或二次型变换矩阵,然后用双线性内插方法,执行几何校正操作,对上述图像几何校正,将这些图像按照参考图像的空间位置配准;(3)利用热像仪“面扫描”的特点,在图像上搜索,得到各兴趣点位置及温度,绘出并显示该设备在此兴趣点不同时期温度的变化曲线图。 |
地址 |
430074湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |