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发明名称 METHOD OF DETECTING DEFECTS IN THE SILICON WAFER
摘要
申请公布号 KR20050059910(A) 申请公布日期 2005.06.21
申请号 KR20030091635 申请日期 2003.12.15
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 KOH, CHUNG GEUN
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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