| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND OVER ERASE VERIFY METHOD THEREOF |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR100495655(B1) |
申请公布日期 |
2005.06.07 |
| 申请号 |
KR19970062881 |
申请日期 |
1997.11.25 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
JUNG, HWI TAEK |
| 分类号 |
G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
