| 主权项 |
1.一种电子零件之测试方法,其特征在于系设定由预模拟运行温度、预模拟运行电压以及预模拟运行时间决定的特定负荷量,以加上与前述负荷量等量之负荷之方式对电子零件进行预模拟运行者,且包含将具有负电阻温度特性之电子零件放置在低于预模拟运行温度的特定温度下,以前述电子零件的温度为前述特定温度之第1步骤;对电子零件通以恒定电流,将电子零件的温度从前述特定温度上升控制到前述预模拟运行温度之第2步骤;及在前述预模拟运行温度下,将外加在电子零件上的实际外加电压与前述预模拟运行电压进行比较,由该比较修正前述预模拟运行时间并求出修正预模拟运行时间,基于该修正预模拟运行时间对电子零件通以恒定电流之第3步骤。2.如申请专利范围第1项之电子零件之测试方法,其中监视在前述第2步骤对前述电子零件通以恒定电流的状态下对该电子零件施加的电压,依据该监视结果决定预模拟运行时间。3.如申请专利范围第1或2项之电子零件之测试方法,其中前述第1步骤包含预先利用升温装置将前述电子零件的温度升温到比常温更接近前述预模拟运行温度的温度的程序。4.一种电子零件之测试装置,其特征在于系设定由预模拟运行温度、预模拟运行电压以及预模拟运行时间决定的特定负荷量,以加上与前述负荷量等量的负荷之方式对电子进行预模拟运行者,且具有:对前述电子零件通以恒定电流的恒定电流源部;及控制前述恒定电流源部动作之预模拟运行控制部,前述预模拟运行控制部至少实施下列步骤:藉由驱动前述恒定电流源部对前述电子零件通以恒定电流,使电子零件的温度从特定温度升温至预模拟运行温度的升温控制步骤;及在预模拟运行温度下比较外加在电子零件上的实际外加电压与预模拟运行电压,依据其比较结果进行预模拟运行时间修正运算,按照该修正预模拟运行时间,在前述预模拟运行温度下对前述电子零件进行预模拟运行的预模拟运行控制步骤。5.如申请专利范围第4项之电子零件之测试装置,其中具有升温装置,其系在由前述恒定电流源部对前述电子零件通以恒定电流之前,将前述电子零件的温度从常温升温至特定温度。6.如申请专利范围第4或5项之电子零件之测试装置,其中前述预模拟运行控制部具有负反馈控制部,其系比较流入前述电子零件的实际电流値与设定电流値,缩小该两値之差。7.如申请专利范围第4或5项之电子零件之测试装置,其中前述预模拟运行控制部具备修正手段,其系测量流入前述电子零件的实际电流値并依据该测量结果运算以前述实际电流値成为设定电流値之方式修正的修正量,根据该运算结果修正前述实际电流値。8.如申请专利范围第4或5项之电子零件之测试装置,其中具备前述恒定电流源部,其系能够对多个电子零件之各个同时通以恒定电流。图式简单说明:图1为本发明实施形态的电子零件试验方法实施所用的预模拟运行试验装置概略结构图。图2为图1之预模拟运行试验装置之恒定电流源部主要部分之概略结构图。图3为预模拟运行试验程序之流程图。图4为图1之预模拟运行试验装置造成的电子零件温度变化曲线图。图5为在电子零件上施加恒定电压时零件温度随时间的变化曲线。图6为对电子零件通以恒定电流时零件温度随时间变化的曲线图。 |
