| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Prüfsystem für faseroptische Lichtwellenleiter (10), welche an einem stirnseitigen Faserende (12) zur Ein- oder Auskopplung von zu übertragender Strahlung ausgebildet sind, mit einem Prüfsender (14) zur Bestrahlung des Faserendes (12) mit Prüfstrahlung (30). Um durch eine einfache nicht ortsaufgelöste Messung die Oberflächenqualität des Faseren-des (12) bestimmen zu können, sind erfindungsgemäss ein Strahlungsdetektor (16) zur Erfassung von diffuser und/oder thermischer Rückstrahlung (34,38) von dem Faserende (12) und eine Auswerteeinheit (18) zur Verarbeitung eines Ausgangssignals des Strahlungsdetektors (16) vorgesehen.</p> |
