发明名称 | 图像缺陷校正设备及方法 | ||
摘要 | 一种图像缺陷校正设备,其处理通过预定的顺序的多个垂直电荷耦合器件和一个水平电荷耦合器件从二维排列的感光元件输出的亮度信号,并且输出图像信息,其包括:一记录单元,用于在其中记录一识别一条像素校正对象垂直线的x地址,所述像素校正对象垂直线相应于一条其中存在点缺陷的垂直电荷耦合器件;一校正值计算单元,其根据下列(i)和(ii)计算一校正值,(i)是相应于位于由x地址标识的所述校正对象垂直线上的一预定位置上的像素的亮度信号,(ii)是相应于位于另一条垂直线的一预定位置上的像素的亮度信号;以及一校正单元,其根据所述计算的校正值,校正相应于所述校正对象垂直线的亮度信号的值。 | ||
申请公布号 | CN1574915A | 申请公布日期 | 2005.02.02 |
申请号 | CN200410063179.1 | 申请日期 | 2004.05.14 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 板仓启二郎;藤井俊哉;河野明启;加藤良章 |
分类号 | H04N5/335 | 主分类号 | H04N5/335 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 傅康;叶恺东 |
主权项 | 1.一种图像缺陷校正设备,其处理通过预定的顺序多个垂直电荷耦合器件和一个水平电荷耦合器件从二维排列的感光元件输出的亮度信号,并且输出图像信息,所述图像缺陷校正设备包括:一记录单元,用于在其中记录一用于标识像素校正对象垂直线的x地址,该校正对象垂直线相应于一条其中存在点缺陷的垂直电荷耦合器件;一校正值计算单元,其可以根据下列(i)和(ii)计算一校正值,(i)是相应于至少一个位于由记录的x地址标识的所述校正对象垂直线上的一预定位置上的像素的亮度信号,(ii)是相应于至少一个位于另一条不是校正对象的垂直线的一预定位置上的像素的亮度信号;以及一校正单元,其可以根据所述计算的校正值,校正相应于所述校正对象垂直线的亮度信号的值。 | ||
地址 | 日本大阪府 |