| 发明名称 | 测距装置 | ||
| 摘要 | 一种测距装置，具备：发出测距光的光源部；具有受光光轴的受光光学系统；具有投射光轴，将来自上述光源部的测距光向测定对象物投射，将来自该测定对象物的反射测距光导入上述受光光学系统的投射光学系统；将来自上述光源部的测距光作为内部参照光导入上述受光光学系统的内部参照光学系统。上述光源部可射出扩散角不同的2个测距光，上述光源部、投射光学系统之一具有使测距光相对于投射光轴偏心的偏心用部件。 | ||
| 申请公布号 | CN1573357A | 申请公布日期 | 2005.02.02 |
| 申请号 | CN200410045767.2 | 申请日期 | 2004.05.21 |
| 申请人 | 株式会社拓普康 | 发明人 | 大友文夫;古平纯一 |
| 分类号 | G01S7/481;G01S17/08;G01C3/06 | 主分类号 | G01S7/481 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨凯;叶恺东 |
| 主权项 | 1.一种测距装置，具备：发出测距光的光源部；具有受光光轴的受光光学系统；具有投射光轴，将来自上述光源部的测距光向测定对象物投射，将来自该测定对象物的反射测距光导入上述受光光学系统的投射光学系统；将来自上述光源部的测距光作为内部参照光导入上述受光光学系统的内部参照光学系统，上述光源部可射出扩散角不同的2个测距光，上述光源部、投射光学系统之一具有使测距光相对于投射光轴偏心的偏心用部件。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||