发明名称 Siliziumsubstrat mit positiven Ätzprofilen mit definiertem Böschungswinkel und Verfahren zur Herstellung
摘要 Die Erfindung betrifft ein Siliziumsubstrat mit positiven Ätzprofilen mit definiertem Böschungswinkel, erhältlich durch Ätzen des Siliziumsubstrates, das mit einer Maske abgedeckt ist und den folgenden Schritten DOLLAR A a) isotropes Ätzen des Siliziumsubstrates, wobei die Maskenunterätzung u annähernd gleich der Ätztiefe Ķt¶ ist, DOLLAR A b) Vergrößern der Ätztiefe durch anisotropes Ätzen mit alternierend aufeinanderfolgenden Ätz- und Polymerisationsschritten, wobei die Maskenunterätzung konstant bleibt und die Ätzfront einen neuen Verlauf erhält, und mit diesem Schritt die Seitenwände der Struktur mit einem Polymer belegt werden, DOLLAR A c) Entfernen des Polymers von der Struktur und DOLLAR A d) Wiederholen der Schritte a) bis c), bis das vorgegebene Ätzprofil erreicht ist. DOLLAR A Ein Verfahren ist beschrieben.
申请公布号 DE10318568(A1) 申请公布日期 2004.11.25
申请号 DE2003118568 申请日期 2003.04.15
申请人 TECHNISCHE UNIVERSITAET DRESDEN 发明人 RICHTER, KAROLA;FISCHER, DANIEL
分类号 B81C1/00;H01L21/3065;(IPC1-7):B81C1/00;H01L21/306;H01L21/308 主分类号 B81C1/00
代理机构 代理人
主权项
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