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LA PRESENTE INVENCION CONSISTE EN UN DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LOS DEFECTOS DE FASE DE ONDAS ELECTROMAGNETICAS (OE), QUE COMPRENDE UN SISTEMA DE RECEPCION (SM) FORMADO POR UN PLANO DE MEDIDA (PM), UN SISTEMA DE DESFOCALIZACION (SD1), QUE ENVIA AL SISTEMA DE RECEPCION (SM) UN PAR DE PLANOS CONJUGADOS DEL PLANO PUPILAR DE UN INSTRUMENTO OPTICO, Y UNA UNIDAD DE CALCULO (UC), QUE DETERMINA LOS DEFECTOS DE FASE A PARTIR DE LAS MEDIDAS REGISTRADAS. - SEGUN LA INVENCION, EL DISPOSITIVO COMPRENDE ADEMAS UN FILTRO ESPACIAL (F) DISPUESTO EN EL PLANO DE IMAGEN DEL INSTRUMENTO OPTICO Y FORMADO DE TAL MANERA QUE LIMITA LA SUPERFICIE DE UNA FUENTE LUMINOSA CAPTADA POR EL SISTEMA DE RECEPCION (SM), AL TIEMPO QUE PERMITE LA TRANSMISION DEL ESPECTRO ESPACIAL DE LOS DEFECTOS DE FASE.
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