发明名称 磁阻效应元件、磁头和磁存储装置
摘要 本发明提供一种磁阻效应元件、磁头和磁存储装置,其中,所述磁阻效应元件;其特征在于,具备强磁性膜和以一般式:R<SUB>X</SUB>Mn<SUB>100-X</SUB>,式中,R是选自Ir、Rh、Pt、Au、Ag、Co、Pd、Ni、Cr、Ge、Ru、Re和Cu中的至少一种,X满足2≤X≤80,或者一般式:(R<SUB>X’</SUB>Mn<SUB>1-X’</SUB>)<SUB>100-Y</SUB>Fe<SUB>Y</SUB>,式中,R是选自Ir、Rh、Pt、Au、Ag、Co、Pd、Ni、Cr、Ge、Ru、Re和Cu中的至少一种,X’满足0.02≤X’≤0.80,Y满足0<Y<30所表示的反强磁性膜,上述反强磁性膜具有进行面内取向,而且与上述强磁性膜进行交换结合而构成的交换结合膜;和用以将电流对上述交换结合膜通电的电极。
申请公布号 CN1523575A 申请公布日期 2004.08.25
申请号 CN200310122542.8 申请日期 1998.04.03
申请人 株式会社东芝 发明人 福家广见;齐藤和浩;中村新一;岩崎仁志;佐桥政司
分类号 G11B5/39;G01R33/09 主分类号 G11B5/39
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 叶恺东
主权项 1.一种磁阻效应元件;其特征在于,具备强磁性膜和以一般式:RXMn100-X’式中,R是选自Ir、Rh、Pt、Au、Ag、Co、Pd、Ni、Cr、Ge、Ru、Re和Cu中的至少一种,X满足2≤X≤80,或者一般式:(RX’,Mn1-X’)100-YFeY 式中,R是选自Ir、Rh、Pt、Au、Ag、Co、Pd、Ni、Cr、Ge、Ru、Re和Cu中的至少一种,X’满足0.02≤X’≤0.80,Y满足0<Y<30所表示的反强磁性膜,上述反强磁性膜具有进行面内取向,而且与上述强磁性膜进行交换结合而构成的交换结合膜;和用以将电流对上述交换结合膜通电的电极。
地址 日本东京