发明名称 具有依自我测试结果决定可用性之乱数产生器的微处理器
摘要 本发明系揭露一种微处理器,其包含一乱数产生器(RNG),可于重置时执行自我测试,并依据自我测试结果选择性地致能/除能其自身。此乱数产生器包括一自我测试单元,可于启动重置或暖重置时执行自我测试,以判断乱数产生器是否正常运作。若自我测试失败,则微处理器将乱数产生器除能。除能乱数产生器的动作,可包含因应一CPUID指令的执行,而以延伸功能资讯回覆,以指出乱数产生器并不存在。除能乱数产生器的动作,亦可包含回应一RDMSR或WRMSR指令(其指定该乱数产生器之一相关MSR)的执行,而产生一一般保护错误。除能乱数产生器的动作,亦可包含回应一企图从乱数产生器取得乱数之指令的执行,而产生一无效运算码错误。在一实施例中,该自我测试系如FIPS第140–2期中所指定的。
申请公布号 TW200415509 申请公布日期 2004.08.16
申请号 TW092118542 申请日期 2003.07.08
申请人 智慧第一公司 发明人 汤玛斯克利斯宾;葛兰亨利;泰瑞派克斯
分类号 G06F9/22 主分类号 G06F9/22
代理机构 代理人 何文渊
主权项
地址 美国