| 主权项 |
1.一种用以检测印刷电路板之测试探针结构,该测试探针系插设在一电路板检测装置上之一治具之复数个贯穿孔中,该治具系一由复数层上下堆叠复合而成之板体,该等板体上具有复数个相通之贯穿孔,且该等板体下层之贯穿孔间隔,系较具上层之贯穿孔间隔为大;其特征在于,该测试探针之断面,系呈一圆形且设有至少一段以上由其头部渐缩至其尾端之断面差,各该断面差系以一导斜角方式渐缩至该测试探针之本体上,且该测试探针之尾端系呈一尖端状,该测试探针之头部则系呈一圆弧形;因此,藉由该测试探针上该渐缩之导斜角,可令该测试探针更为容易地插入该等板体上、下层之贯穿孔中。2.如申请专利范围第1项所述之用以检测印刷电路板之测试探针结构,其中该导斜角之最佳角度,系以三十度至六十度之间为最佳设置角度。3.如申请专利范围第1项所述之用以检测印刷电路板之测试探针结构,其中该测试探针尾端之尖端,其形成之最佳夹角系为九十度。图式简单说明:第1图系一般电路板检测装置之侧剖示意图;第2图系本创作之测试探针立体外观示意图;第3图系本创作之测试探针插设在第1图之复数层板体之侧剖示意图。 |
