发明名称 |
Aufbau und Verfahren zum Herstellen eines Hochleistungshalbleiterbauelements mit einem schmalen Dotierungsprofil |
摘要 |
Ein Aufbau und ein Verfahren zum Herstellen eines NÜN-Heteroübergang-Bipolartransistors sehen ein Halbleitersubstrat mit einem ersten Bereich, der ein Dotiermittel enthält, zum Ausbilden eines Basisbereichs des Transistors vor. Ein zweiter Bereich neben dem ersten Bereich wird verwendet, um einen Emitterbereich des Transistors zu bilden. Ein Zwischengitter-Fallenmaterial reduziert die Diffusion von Dotiermitteln in dem Basisbereich während einer nachfolgenden thermischen Verarbeitung.
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申请公布号 |
DE10352765(A1) |
申请公布日期 |
2004.06.09 |
申请号 |
DE20031052765 |
申请日期 |
2003.11.12 |
申请人 |
SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC |
发明人 |
LOECHELT, GARY H. |
分类号 |
H01L21/331;H01L29/10;H01L29/732;H01L29/737;(IPC1-7):H01L29/73 |
主分类号 |
H01L21/331 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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