| 发明名称 |
Structural and performance scan test |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0702241(B1) |
申请公布日期 |
2004.05.12 |
| 申请号 |
EP19950305861 |
申请日期 |
1995.08.22 |
| 申请人 |
STMICROELECTRONICS LIMITED |
发明人 |
WARREN, ROBERT |
| 分类号 |
G06F11/267;G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;H03K3/037;(IPC1-7):G01R31/317;G06F11/24;G01R31/318 |
主分类号 |
G06F11/267 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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