| 发明名称 |
Verfahren zum Erzeugen von Testsignalen für eine integrierte Schaltung sowie Testlogik |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10206249(B4) |
申请公布日期 |
2004.04.29 |
| 申请号 |
DE20021006249 |
申请日期 |
2002.02.15 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
ROTH, RICHARD;KILIAN, VOLKER |
| 分类号 |
G01R31/319;G11C29/36;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/318;G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/319 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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