| 摘要 |
Es wird eine Vorrichtung bzw. ein Verfahren zur Prüfung zahlreicher, verschiedener Materialproben (2) auf einem Substrat (1), insbesondere von katalytisch aktiven Materialproben (2), mit einer Temperatur-Auswerteeinheit (4) zur Ermittlung einer Materialtemperatur, die eine Infrarot-Strahlungs-Erfassungseinheit (4) umfasst, vorgeschlagen, wobei die Nachteile des Standes der Technik vermieden werden. Dies wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, dass die Infrarot-Strahlungs-Erfassungseinheit (4) zur lokal auflösenden Erfassung der zahlreichen, verschiedenen Materialproben (2) auf dem Substrat (1) ausgebildet ist.
|
