发明名称 |
一种基于原子力显微镜的测量衬底上样品高度的装置 |
摘要 |
一种基于原子力显微镜的测量衬底上样品高度的装置,包括原子力显微镜、函数发生器、示波器等,通过在导电针尖上施加一定的偏压,从而在针尖与样品之间诱导形成电场。这种长程的电场力叠加在范德华力上可以扩大针尖与样品的距离,使针尖在垂直方向上的移动更容易控制,而且可以在不同的高度上稳定成像。通过调节Asp(针尖上所加的力)参数或插入扫描频道中的扫描高度参数来改变针尖高度的两种途径,可得到被测样品的高度。本实用新型结构比较简单,使用方便,使针尖在垂直方向上的移动更容易控制,在柔软的生物样品的高度测量上更有优势,很大程度上消除了针尖对样品的压力。 |
申请公布号 |
CN2600809Y |
申请公布日期 |
2004.01.21 |
申请号 |
CN03228129.3 |
申请日期 |
2003.01.10 |
申请人 |
中国科学院上海原子核研究所 |
发明人 |
李晓军;孙洁林;胡钧;李民乾;何品刚;方禹之;吕军鸿 |
分类号 |
G01N13/16 |
主分类号 |
G01N13/16 |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 |
代理人 |
肖剑南 |
主权项 |
1、一种基于原子力显微镜的测量衬底上样品高度的装置,包括:扫描管(1),其上置衬底(2),衬底(2)上放置柔软的或刚性的样品(3);样品(3)上方的针尖支架上装一导电针尖(4),它与一压电陶瓷晶片(7)紧密地结合在一起,并藉由一控制系统(8)控制压电陶瓷晶片(7),从而带动针尖(4)在一定的驱动频率下振动;激光束(6)聚焦在针尖悬臂背面的镜面上,一个四元的光电二极管(5)用于检测样品(3)扫描时由于样品(3)表面的高低起伏引起的悬臂弯曲造成的反射光束的偏移;其特征在于:还包括函数发生器(11),用于输出0到±15V、频率为200~300KHz的直流电和交流电,通过同轴电缆线(9)输入到显微镜中,电缆线(9)一头与针尖(4)的支架相连,另一头接地,另外,一示波器(12)通过另一同轴电缆线(10)与函数发生器(11)相连,以跟踪其所输出的电压大小和频率; |
地址 |
201800上海市嘉定区新木桥嘉罗公路2019号 |