发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING A SEMICONDUCTOR WAFER DURING A SPIN DRYING OPERATION
摘要
申请公布号 KR20030078875(A) 申请公布日期 2003.10.08
申请号 KR20037008683 申请日期 2003.06.26
申请人 发明人
分类号 H01L21/304;H01L21/66;B24B49/00;B24B51/00;B24C3/00;F26B3/34;F26B13/10;F26B17/24;F26B17/30;F26B21/00;G01R31/26;H01L21/00;H01L21/31 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
地址