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经营范围
发明名称
APPARATUS AND METHOD FOR ELECTRICAL TESTING OF ELECTRICAL CIRCUITS
摘要
申请公布号
IL152940(D0)
申请公布日期
2003.06.24
申请号
IL20010152940
申请日期
2001.07.17
申请人
ORBOTECH LTD.
发明人
分类号
G01R1/06;G01R1/067;G01R31/28;(IPC1-7):G01R
主分类号
G01R1/06
代理机构
代理人
主权项
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