发明名称 | 偏振不灵敏半导体光学放大器的制备方法 | ||
摘要 | 一种偏振不灵敏半导体光学放大器的制备方法,包括如下步骤:1)利用等离子体化学气相沉积技术在铟磷衬底上生长介质膜;2)利用普通的光刻腐蚀技术刻出半导体光学放大器所需的掩膜图形;3)采用窄条宽选择生长金属有机化学气相沉积技术,在光刻后的铟磷衬底上依次生长n型铟磷缓冲层、铟镓砷磷有源层以及p型铟磷盖层;4)利用腐蚀液去掉介质膜;5)二次外延p型铟磷盖层和掺锌的铟镓砷接触层;6)光刻腐蚀出器件条形结构;7)三次外延铟磷窗口区;8)光刻腐蚀出器件条形结构;9)利用化学气相沉积生长二氧化硅绝缘层,10)开二氧化硅窗口;11)作电极;12)解理,在器件的两个端面上镀介质光学膜。 | ||
申请公布号 | CN1423163A | 申请公布日期 | 2003.06.11 |
申请号 | CN01140455.8 | 申请日期 | 2001.12.07 |
申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 张瑞英;董杰;王圩 |
分类号 | G02F1/39;H01L21/027 | 主分类号 | G02F1/39 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汤保平 |
主权项 | 1、一种偏振不灵敏半导体光学放大器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:1)利用等离子体化学气相沉积技术在铟磷衬底上生长介质膜;2)利用普通的光刻腐蚀技术刻出半导体光学放大器所需的掩膜图形;3)采用窄条宽选择生长金属有机化学气相沉积技术,在光刻后的铟磷衬底上依次生长n型铟磷缓冲层、铟镓砷磷有源层以及p型铟磷盖层;4)利用腐蚀液去掉介质膜;5)二次外延p型铟磷盖层和掺锌的铟镓砷接触层;6)光刻腐蚀出器件条形结构;7)三次外延铟磷窗口区;8)光刻腐蚀出器件条形结构;9)利用化学气相沉积生长二氧化硅绝缘层;10)开二氧化硅窗口;11)作电极;12)解理,在器件的两个端面上镀介质光学膜。 | ||
地址 | 100083北京市海淀区清华东路甲35号 |