发明名称 在半导体衬底中制造平面绝缘沟槽的方法
摘要 改善沟槽结构上形貌的方法,在沟槽边缘区域中提供例如多晶硅20过量多晶半导体材料或氮化物或氧化物,如果需要,过量材料的随后氧化防止产生高机械应力区。
申请公布号 CN1110848C 申请公布日期 2003.06.04
申请号 CN98805442.6 申请日期 1998.03.23
申请人 艾利森电话股份有限公司 发明人 A·K·S·瑟德贝里;N·O·厄格伦;E·H·舍丁;O·M·扎克里森
分类号 H01L21/763;H01L21/762 主分类号 H01L21/763
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 邹光新;李亚非
主权项 1.在具有平面表面(3)的半导体材料衬底(2)中形成沟槽的方法,包括以下步骤:利用掩模(4)掩蔽衬底(2)的平面表面(3)中要求的沟槽(1)位置,在所说平面表面(3)中腐蚀要求深度的沟槽(1),在部分或全部衬底(2)的露出表面上形成第一绝缘层(9),在第一绝缘层(9)上淀积第二绝缘材料层(6),其中所说第二绝缘材料层(6)的厚度足以过填充沟槽(1),深腐蚀第二绝缘材料层(6),直到平面表面(3)上的第一绝缘层(9)露出,但所说沟槽(1)仍包含所说第二绝缘材料层(6),由此在沟槽(1)上形成基本垂直向下的台阶(8),台阶的高度是h,其特征在于以下步骤:在所说晶片(2)和所说沟槽(1)中所说第二绝缘层(6)的露出表面上淀积与所说绝缘材料(6)相同类型的绝缘膜(21);各向异性深腐蚀该绝缘膜(21),以便残留在沟槽(1)边缘区域中的所说第二绝缘材料层(6)上的该绝缘膜(21)的深度d小于或等于台阶(8)的高度h;和氧化上述深腐蚀后的绝缘膜(21),使氧化前绝缘膜(21)的厚度合适,以便完成氧化后,得到的氧化层(22)基本上与露出的平面表面(3)共平面。
地址 瑞典斯德哥尔摩