发明名称 Scanning microscope, method of scanning microscopy and band pass filter
摘要 <p>Ein Scanmikroskop mit einer Lichtquelle zur Beleuchtung einer Probe, einem Mittel zum räumlich spektralen Aufspalten des Detektionslichtes und einem Detektor ist offenbart. Das Scanmikroskop weist Mittel zum Auswählen einer unteren Grenzwellenlänge, die einen unteren Sperrbereich definiert und Mittel zum Auswählen einer oberen Grenzwellenlänge, die einen oberen Sperrbereichs definiert, sowie eine erste und eine zweite einstellbare Blende auf, die Lichtanteile des unteren und des oberen Sperrbereichs des Detektionslichtes blockieren. Weiterhin ist ein Bandpassfilter und ein Verfahren zur Scanmikroskopie offenbart. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP1315012(A1) 申请公布日期 2003.05.28
申请号 EP20020102510 申请日期 2002.10.30
申请人 LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH 发明人 ENGELHARDT, JOHANN, DR.
分类号 G02B21/00;G01J3/04;(IPC1-7):G02B21/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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