自动晶粒测试装置

摘要

本发明系提供一种自动晶粒测试装置，其系可同时对多个单元之晶粒做一测试动作，其主要结构系为：在该机台中设置有数台平行之测试机，其中该前后移动滑台包括有Y轴移动平台，其系由一Y轴步进马达驱动，而该Y轴移动平台上设有左右移动滑台包括有X轴移动平台，其系由一X轴步进马达驱动，又该X轴移动平台上设有旋转载台，该旋转载台系由一步进马达驱动、而上升机构则由气压缸驱动，且其旋转载台可藉由上升机构及上升微调机构所包括之上升止档块与上升极限块配合设定其上升路径，而下降时有一下降止档块与一下降极限块配合设定其下降路径，供使用者所需配合工作调整路径，又该旋转载台后方另设有一测试机，俾当该晶粒置入该旋转载台后，该旋转载台便可藉由上述结构将该晶粒送至测试针板，期间之调整与确认便藉由该电脑定位模组校正。另外，本发明系平行装配，其占用之面积减少到四分之一以下，非常有利于该测试机置放；又，如上所述，从基本结构的简化，很容易配合组装出多种的结构，并可简单快速的构造出范围较广之应用线路，进而有效降低生产成本，并提升生产效率，增加产生上之竞争力为其目的者。

主权项

1.一种自动晶粒测试装置,其系可同时对多个单元之晶粒做一测试动作,其系于该机台中设置有数台平行之测试机,其中该前后移动滑台包括有Y轴移动平台,其系由一Y轴步进马达驱动,而该Y轴移动平台上设有左右移动滑台包括有X轴移动平台,其系由一X轴步进马达驱动,又该X轴移动平台上设有旋转载台,该旋转载台系由一步进马达驱动、而上升机构则由气压缸驱动,且其旋转载台可藉由上升机构及上升微调机构所包括之上升止档块与上升极限块配合设定其上升路径,而下降时有一下降止档块与一下降极限块配合设定其下降路径,供使用者所需配合工作调整路径,又该旋转载台后方另设有一测试机,俾当该晶粒置入该旋转载台后,该旋转载台便可藉由上述结构将该晶粒送至测试针板,期间之调整与确认便藉由该电脑定位模组校正。2.依申请专利范围第1项所述之自动晶粒测试装置,其中该测试机起始时A组原位,如有测试晶粒直接依灯号分类,如未有晶粒,便执行放料,藉由机台之影像定位使该晶粒可正确至该测试位置在藉由电脑补正,使其每次位置皆能正确,接着该旋转平台将该晶粒移动至测试针板,上升之待测位置,此时测试机开机,该晶粒经测试后,其测试结果输出,由机台之电脑将该测试结果读取,该测试机关机,旋转平台下降、显示分类灯号,该旋转载台回原位,依灯号分类完成测试程序,为其特征。图式简单说明:第一图系为晶粒测试装置组织架构图。第二图系为本发明单元位置示意图。第三图系为晶粒测试装置动作流程图。