| 发明名称 |
METHOD OF MEASURING LIFE TIME OF MAJORITY CHARGE CARRIERS IN SEMICONDUCTORS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL349177(A1) |
申请公布日期 |
2003.02.24 |
| 申请号 |
PL20010349177 |
申请日期 |
2001.08.17 |
| 申请人 |
INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ |
发明人 |
PIOTROWSKI TADEUSZ;SIKORSKI STANISLAW |
| 分类号 |
G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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