| 主权项 |
1.一种为光学拾光器产生定向检测信号之装置,包 括一分光单元、一光学检测器、及一信号处理部; 该分光单元可将一入射光束分成至少二道光束,以 便在一光学碟片上至少可有二个聚焦的束点;该光 学检测器可接收从光学碟片反射之光束;而该信号 处理部可处理由该光学检测器检测的信号;其特征 在于: 该分光单元将一入射光束分成至少二道光束,包括 一主光束与一副光束,以便在一光学碟片之磁轨方 向上,至少可有二个聚焦的束点,包括一主束点与 至少一个具光学像差之副束点;且该副束点之光学 像差方向可为光学碟片之径向; 该光学检测器包括第一光学检测器与第二光学检 测器;第一光学检测器具有复数个光接收部,可接 收从光学碟片反射之主光束,并将接收之光束的各 部份分别转换成电气信号;第二光学检测器可接收 从光学碟片反射之副光束,并将接收之光束的各部 份分别转换成电气信号;以及 该信号处理部包括第一信号处理部与第二信号处 理部;第一信号处理部可从第一光学检测器输出的 信号检出一磁轨误差信号,第二信号处理部可从第 二光学检测器检测出的信号产生一定向检测信号 。2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该第二 光学检测器包括一对对应光学碟片径向之方向安 排的第一与第二内光接收部,与一对分别位于第一 与第二内光接收部外侧的第一与第二外光接收部; 以及,该第二信号处理部系从第一与第二外光接收 部与第一与第二光接收部检出的信号,产生一定向 检测信号。3.如申请专利范围第2项所述之装置,其 中该第一与第二光接收部的宽度,小于在光学碟片 上聚焦之入射束点之半径。4.如申请专利范围第3 项所述之装置,其中该第一与第二光接收部的宽度 总和,是在光学碟片上聚焦之入射束点直径的0.2至 0.8倍。5.如申请专利范围第2至第4项中任一项所述 之装置,其中该第二信号处理部包括一微分放大器 ;当第一外光接收部与第二内光接收部之输出信号 和为S(P1+P3),且第一内光接收部与第二外光接收部 之输出信号和为S(P2+P4)时,该微分放大器可将信号S (P1+P3)与信号S(P2+p4)微分,并输出一磁轨交叉信号; 以及 该第二信号处理部可使用该微分放大器输出的磁 轨交叉信号,与该第一信号处理部输出之磁轨误差 信号问的相差,产生一定向检测信号。6.如申请专 利范围第2至第4项中任一项所述之装置,其中,当第 一与第二外光接收部输出的信号为SP1与SP4,而第一 与第二内光接收部输出的信号为SP2与SP3时,该第二 信号处理部包括: 一第一微分放大器,用以微分信号SP1与SP4,并输出 一信号S(P1-P4); 一第二微分放大器,用以微分信号SP2与SP3,并输出 一信号S(P3-P2); 一增益调整单元,可将第二微分放大器输出之信号 乘以一预定增益系数K,并可输出一信号KxS(P3-P2);及 一加法放大器,可总加信号S(P1-P4)与信号KxS(P3-P2), 并输出一磁轨交叉信号;及 其中,该第二信号处理部可使用该加法放大器输出 的磁轨交叉信号,与该第一信号处理部输出之磁轨 误差信号间的相差,产生一定向检测信号。7.一种 为光学拾光器产生定向检测信号之装置,包括一分 光单元、一光学检测器、及一信号处理部;该分光 单元可将一入射光束分成至少二道光束,以便在一 光学碟片上至少可有二个聚焦的束点;该光学检测 器可接收从光学碟片反射之光束;而该信号处理部 可处理由该光学检测器检测的信号;其特征在于: 该分光单元将一入射光束分成至少二道光束,包括 一主光束与一副光束,以便在一光学碟片之磁轨方 向上,至少可有二个聚焦的束点,包括一主束点与 至少一个具光学像差之副束点;且该副束点之光学 像差方向可为光学碟片之径向; 该光学检测器包括第一光学检测器与第二光学检 测器;第一光学检测器具有复数个光接收部,可接 收从光学碟片反射之主光束,并将接收之光束的各 部份分别转换成电气信号;第二光学检测器具有第 一、第二及第三光接收部,其系在对应光学碟片之 切线方向上分成三个部份,并具有第四、第五及第 六光接收部,其系在对应切线方向之方向上分成三 个部份,并在对应径向之方向上,分别邻接第一、 第二及第三光接收部,用以接收从光学碟片反射之 副光束,并将接收之光束的各部份分别转换成电气 信号;及 该信号处理部包括第一信号处理部及第二信号处 理部;第一信号处理部可从第一光学检测器输出的 信号检出一磁轨误差信号;第二信号处理部可将第 一、第三及第五光接收部输出的信号和,与第二、 第四及第六光接收部输出的信号和微分,以产生一 定向检测信号。图式简单说明: 图1为一概要图,显示由习式光学拾光器在一光学 碟片上聚焦的光点; 图2为一概要图,显示为光学拾光器产生定向检测 信号之习式装置; 图3为一光学拾光器装置之光学配置图,其中系使 用本发明一实施例之定向检测信号产生装置; 图4为一概要图,显示在一光学碟片上形成的主束 点SPmain及副束点SPsub; 图5为一概要图,显示根据本发明一实施例之第一 光学检测器结构,及处理第一光学检测器输出信号 之第一信号处理部; 图6为一概要图,显示根据本发明一实施例之第二 光学检测器结构,及处理第二光学检测器输出信号 之第二信号处理部之一实施例; 图7为一概要图,显示根据本发明之第二信号处理 部之另一实施例; 图8显示图7所示第二光学检测器之第一及第二内 光接收部于束点偏离磁轨状态时输出的信号波形; 图9显示图7所示第二光学检测器之第一及第二外 光接收部于束点偏离磁轨状态时输出的信号波形; 图10显示在A、B点之推挽信号波形,及整个第二光 学检测器于束点偏离磁轨状态时的推挽信号波形; 图11显示在束点偏离磁轨状态时的磁轨交叉信号 波形; 图12显示在束点偏离磁轨状态时的磁轨交叉信号 与磁轨误差信号波形; 图13为一概要图,显示根据本发明另一实施例之第 二光学检测器结构,及处理第二光学检测器输出信 号之第二信号处理部之另一实施例; 图14之图表,系根据图13所示第二信号处理部输出 之径向偏斜变量而显示的磁轨交叉信号;及 图15之图表,系根据图13所示第二信号处理部输出 之切线方向偏斜变量而显示的磁轨交叉信号。 |
