| 摘要 |
<p>L'invention concerne un étage de conversion A/N comprenant un convertisseur auxiliaire A/N connecté à un convertisseur auxiliaire N/A (12), et étalonné au moyen d'un procédé consistant à insérer une séquence de test d'étalonnage dans le convertisseur auxiliaire N/A. Il faut, pour cela, forcer (SW) les comparateurs (COMP1-COMP7) du convertisseur auxiliaire A/N à générer et à insérer la séquence dans le convertisseur auxiliaire N/A.</p> |
