| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Interferenzmikroskop und ein Verfahren zum Betrieb eines Interferenzmikroskops, insbesondere eines 4Pi-, Wellenfeld-, I·2·M-, I·3·M- oder I·5·M-Mikroskops, wobei mindestens eine dem Objekt zugeordnete Objektträgereinheit (22) vorgesehen ist. Zur Bestimmung der Phasenlage des interferierenden Lichts im Objektbereich, anhand derer das Interferenzmikroskop justiert werden kann, ist das Interferenzmikroskop dadurch gekennzeichnet, dass zur Bestimmung des Beleuchtungszustands im Objektbereich des Interferenzmikroskops mindestens eine Fläche - vorzugsweise eine Oberfläche (29) - der Objektträgereinheit (22) lichtmikroskopisch detektierbar ausgestaltet ist.
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