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发明名称 INSPECTION SYSTEM AND METHOD FOR LEADS OF SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要
申请公布号 EP1090267(A4) 申请公布日期 2002.07.03
申请号 EP19990947047 申请日期 1999.04.26
申请人 SEMICONDUCTOR TECHNOLOGIES & INSTRUMENTS, INC. 发明人 ROY, RAJIV;GLUCKSMAN, MICHAEL, D.;WAHAWISAN, WEERAKIAT;HASTEN, PAUL, HARRIS;HARRIS, CHARLES, KENNETH;EPP, GEORGE, CHARLES
分类号 G01B11/00;G01B11/24;G01B11/245;G01N21/88;H05K13/08;(IPC1-7):G01B11/00;B23P19/00 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
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