发明名称 |
相位误差测量方法、校正方法和装置、磁共振成像装置 |
摘要 |
为了精确地测量和校正相位轴方向上自旋的相位误差,在从第一个180°激励到第二个180°激励之间的时段期间在相位轴方向上施加一个具有零的积分值的梯度磁场,以读出第一自旋回波SE1;在从第二个180°激励到第三个180°激励之间的时段期间在相位轴方向上施加一个具有零的积分值的梯度磁场,以读出第二自旋回波信号;根据这些自旋回波确定由于残磁的效应而产生的相位误差。 |
申请公布号 |
CN1350176A |
申请公布日期 |
2002.05.22 |
申请号 |
CN01135794.0 |
申请日期 |
2001.10.19 |
申请人 |
GE医疗系统环球技术有限公司 |
发明人 |
三好光晴;山崎亚纪 |
分类号 |
G01N24/08;A61B5/055;G01R33/48 |
主分类号 |
G01N24/08 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
吴立明;傅康 |
主权项 |
1.一种相位误差测量方法,包含下列步骤:对物体自旋实施一个90°激励;在从所述90°激励起的第一时段过后实施第一个180°激励;在从所述第一个180°激励起的第二时段过后实施第二个180°激励;在从所述第二个180°激励起的第二时段过后实施第三个180°激励;在从所述第一个180°激励到所述第二个180°激励的时段期间在一个相位轴方向上施加一个零的时间积分值的梯度磁场,以读出一个第一自旋回波信号;在从所述第二个180°激励到所述第三个180°激励的时段期间在该相位轴方向上施加一个零的时间积分值的梯度磁场,以读出一个第二自旋回波信号;和根据所述第一和第二自旋回波信号确定在从所述90°激励到所述第一个180°激励的时段期间在该相位轴方向上自旋的相位误差。 |
地址 |
美国威斯康星州 |