发明名称 具有侧面资讯编码的半导体晶圆
摘要 知技艺是将半导体晶圆之身分识别用之编码资讯,制作在半导体晶圆之表面,如此,在半导体晶圆的表面元件制作过程中,对于身分识别用之编码资讯将造成耗损、模糊、破坏等问题,致使后续常须重新刻上编码。本技艺乃是将半导体晶圆之身分识别用之编码资讯,安置在半导体晶圆的侧面,如此,可以减少半导体晶圆在表面制作元件时,对于身分识别用之编码资讯造成耗损、模糊、破坏等问题,并可利用旋转定位的过程中将编码读出,或是在定位以后将编码读出。本技艺因为对于编码资讯的光学阅感知器设置在半导体晶圆的周边,所以不影响晶圆上方之元件制作、加工、或是特性测试,也就是说,本技艺可以在半导体晶圆之表面元件的制作、加工、或是特性测试的过程中,同时测知其编码资讯。
申请公布号 TW488003 申请公布日期 2002.05.21
申请号 TW089108965 申请日期 2000.05.09
申请人 蔚华系统股份有限公司 发明人 金嘉祥
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项 1.一种具有侧面资讯编码的半导体晶圆,包含:半导体晶圆,具有表面以及侧面;以及编码资讯,位于前述之半导体晶圆的侧面,提供前述之半导体晶圆之身分辨识资讯。2.如申请专利范围第1项所述之具有侧面资讯编码的半导体晶圆,其中所述之编码资讯系在前述之晶圆侧面平坦处。3.如申请专利范围第1项所述之具有侧面资讯编码的半导体晶圆,其中所述之编码资讯系在前述之晶圆侧面曲面处。4.如申请专利范围第1项所述之具有侧面资讯编码的半导体晶圆,其中所述之编码资讯系以条码之方式呈现者。5.如申请专利范围第1项所述之具有侧面资讯编码的半导体晶圆,其中所述之编码资讯系以凹凸槽为编码技艺者。6.如申请专利范围第1项所述之具有侧面资讯编码的半导体晶圆,其中所述之编码资讯系以光线反差为编码技艺者。图式简单说明:图一 习知技艺顶视图图二 习知技艺与光学感知器的关系立体图图三 本技艺与光学感知器的关系立体图图四 本技艺可以设计有一组以上的资讯编码
地址 新竹科学工业园区力行路二之一号六楼之二