| 主权项 |
1.一种用于记忆体测试器的图样产生器,藉以将封 包位址与资料的信号提供给封包基的待测记忆体, 该图样产生器包含: 一个位址来源,其用来产生一个外部的封包记忆位 址信号,该信号代表在该待测记忆体中复数个可定 址的记忆体元件; 复数个资料产生器,以并联的关系来设置并且连接 到该位址来源的输出端,藉以接收该封包记忆位址 信号的至少一部分,该资料产生器每一个皆具有用 来从该封包位址中取得内部位址的逻辑电路,该内 部位址在该待测记忆体的该复数个记忆体元件内, 则是相应于个别的记忆体元件;以及 一个定序器,设置在该资料产生器的输出端上,以 封包波形来分配该资料产生器的输出,以用于该待 测记忆体。2.根据申请专利范围第1项之图样产生 器,其中: 该位址来源包含一个演算法的图样产生器。3.根 据申请专利范围第1项之图样产生器,其中: 该复数个资料产生器连接到该位址来源的输出端, 藉以接收封包行位址的信号;且 该逻辑电路用来从该封包位址中取得该内部位址 。4.根据申请专利范围第1项之图样产生器,为了使 用记忆体测试器来测试待测的记忆体,该待测记忆 体具有根据预定的撷取顺序用来映射行位址资讯 的逻辑电路,其中: 该逻辑电路包含一个查阅表,藉以逆向地撷取该行 位址资讯,相应于预定的撷取顺序。5.根据申请专 利范围第4项之图样产生器,其中: 该查阅表包含一个撷取RAM。6.根据申请专利范围 第1项之图样产生器,进一步地包含: 一个脉冲群位址控制电路,用来决定该内部位址资 料的脉冲群顺序。7.根据申请专利范围第1项之图 样产生器,其中该脉冲群位址控制电路包含: 一个种子位址选择器,用来识别种子位址; 一个计数器;以及 一个脉冲群位址查阅表,用于信号的交错动作中, 藉以重新映射该封包行位址中预定的内部位址,该 脉冲群位址查阅表相应于该种子位址以及计数器 数値,藉以识别该内部位址的脉冲群顺序。8.根据 申请专利范围第1项之图样产生器,其中: 该脉冲群位址查阅表由一种RAM所构成。9.根据申 请专利范围第7项之图样产生器,其中: 该定序器回应于该脉冲群位址控制电路,藉以改变 在该封包内该资料产生器输出的顺序。10.一种半 导体记忆体测试器,包含: 一个使用者的工作站; 一个测试器主体,回应于该使用者工作站,并且包 含: 控制逻辑电路,用来产生测试的命令; 一个图样产生器,用来产生用于该待测记忆体中的 封包位址与资料信号,该图样产生器包含一个位址 来源以及复数个并联连接到该位址来源的资料产 生器,该资料产生器具有用来接收该封包化位址信 号之一部分并且用来从该封包化位址中取得该待 测记忆体各别之内部位址的逻辑电路,该图样产生 器并且包含一个用来将该资料产生器的输出分配 为封包化波形之定序器; 调整电路,设置在该定序器的输出端上,藉以格式 化该波形;以及 介面电路,适用来连接该待测记忆体,藉以将信号 传送至该待测记忆体,并且藉以比较来自该待测记 忆体的信号。11.一种用于图样产生器的资料产生 器,该图样产生器适用来测试封包基的记忆体装置 ,该资料产生器包含: 一个列位址输入,用来接收封包的列位址; 一个行位址输入,用来接收封包的行位址; 一个组排位址输入,用来接收封包的组排位址;以 及 逻辑电路,具有用来接收该封包位址的输入,并且 用来从该封包位址中取得复数个的内部位址。12. 根据申请专利范围第11项之资料产生器,为了使用 记忆体测试器来测试待测的记忆体,该待测记忆体 具有根据预定的撷取顺序用来映射行位址资讯的 逻辑电路,其中: 该逻辑电路包含一个查阅表,藉以逆向地撷取该行 位址资讯,相应于预定的撷取顺序。13.根据申请专 利范围第12项之资料产生器,其中: 该查阅表由一种撷取RAM所构成。14.一种用于图样 产生器的冲群位址控制电路,该图样产生器适用来 测试封包基的记忆体装置,该冲群位址控制电路包 含: 一个种子位址选择器,用来识别种子位址; 一个计数器;以及 一个脉冲群位址查阅表,用于信号的交错动作,藉 以重新映射该封包行位址中预定的内部位址,该脉 冲群位址查阅表回应于该种子位址以及计数器数 値,藉以识别该内部位址的脉冲群顺序。15.根据申 请专利范围第14项之控制电路,其中: 该脉冲群位址查阅表包含一种RAM。16.一种产生适 用于封包基待测记忆体的位址与资料信号之方法, 该待测记忆体根据DUT映射方法论,用来指定记忆体 元件的该资料信号,该方法包含以下的步骤: 选择一个封包记忆体位址,该位址代表在该待测记 忆体中的一群记忆单元;以及 从该封包位址中取得相应于该记忆单元的复数个 内部位址。17.根据申请专利范围第16项之方法,其 中该取得步骤包含以下的步骤: 决定一个封包的行位址;以及 根据该DUT的映射方法论,逆向地映射该封包的行位 址。18.根据申请专利范围第16项之方法,其中该取 得步骤包含以下的步骤: 决定一个封包的行位址; 检测行位址的中断;以及 基于该行位址的中断,识别何时要将该行位址反相 。19.一种决定封包记忆体位址中多数个内部位址 的脉冲群顺序之方法,该封包记忆体位址由一种用 于待测记忆体的自动测试系统所产生,该方法包含 以下的步骤: 识别该脉冲群顺序的种子位址;以及 基于该种子位址,重新映射该顺序。20.根据申请专 利范围第19项之方法,其中该重新映射的步骤包含 以下的步骤: 计数该内部位址藉以决定一个计数的数値;以及 执行该种以位址与该计数数値的XOR运算。21.根据 申请专利范围第19项之方法,其中该重新映射的步 骤包含以下的步骤: 在该种子位址上,开始该封包的位址;以及 从该种子位址增加该内部位址。图式简单说明: 图1为使用本发明的图样产生器之自动测试系统方 块图; 图2为根据本发明一个实施例的图样产生器之方块 图; 图3为图2所示的图样产生器之方块图; 图4为图3所示的资料产生器之方块图;以及 图5为根据本发明第二实施例的图样产生器之方块 图。 |
