发明名称 |
Method of analyzing semiconductor device operation, method of analyzing specific physical phenomena, and apparatus for performing these methods |
摘要 |
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申请公布号 |
EP0421684(B1) |
申请公布日期 |
2002.01.09 |
申请号 |
EP19900310646 |
申请日期 |
1990.09.28 |
申请人 |
KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA |
发明人 |
KURATA, MAMORU;NAKAMURA, SHIN |
分类号 |
G06F17/50;(IPC1-7):G06F17/50 |
主分类号 |
G06F17/50 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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