测试随机数源的方法和含有所述方法的电子设备

摘要

本发明涉及测试产生随机数源的方法,特别是在密码系统范围内建立的源,例如芯片卡中装有的随机数发生器。本发明特别为用于测试和确认电子设备而设计,例如芯片卡、PCMIA、标记、无接点卡或其它类似的便携装置。

主权项

1．一种测试随机数源的方法，包括以下步骤：步骤1．由随机源产生一(Q+K)*L位数列，Q、K和L是输入参数，在该数列中的位被分组成一些L位的块，形成长度为Q+K的0和2L-1之间的整数数列，该长度被存储在表block[n]中，其中n在1和Q+K之间；步骤2．计算测试参数，表示为Ftu，该第二步骤包括以下步骤，称作子步骤2.1到2.5：2.1建立和初始化大小为2L的表tab[i]；2.2对于从1变到Q的n，进行计算：tab[block]=n；2.3初始化数和(sum)到0；2.4对于从Q+1变到Q+K的n，执行二个操作的计算：将log(n-tab[block[n]])加到sum；作计算：tab[block[n]]=n；2.5测试的参数fTU由下式给出：fTU=(sum/k)/log(2)；步骤3．从下列表达式计算每测试参数块方差Var：$\mathrm{Var}=(1-z)*\underset{i=1}{\overset{\infty }{\Sigma }}\log 2{\left(i\right)}^{2*Z^{i-1}}-((1-z)*\underset{i=1}{\overset{\infty }{\Sigma }}\log 2\left(i\right)*z^{i-1})2$ 其中log2(z)=log(z)/log(2)和z=1-2-L 步骤4．计算函数C(L,K)；步骤5．计算测试参数的标准偏差，表示为σ:σ=C(L,K)$*\sqrt{(\mathrm{Var}/K)};$ 步骤6．计算参数y,y根据作为一个输入固定的测试的拒绝率(表示为ρ)来确定，y必须满足下列方程：N(-y)=ρN是标准密度函数。步骤7．计算测试的理想平均值，表示为E(fTU)，它由下式给出：$E\left[\mathrm{fTU}\right]=(1-z)*\underset{i=1}{\overset{\infty }{\Sigma }}\log 2\left(i\right)*z^{i-1}$ 其中log2(z)=log(z)/log(2)和z=1-2-L 步骤8．计算上下限t1和t2，它们由方程式t1=E[fTU]-y*σ和t2=E[fTU]+y*σ给出；步骤9．测试结果：如果测试参数fTU在t1和t2之间，则随机数发生器被接受；相反情况下则被拒绝，所述方法的特征是，步骤4．包含无论对于参数L和K都成立的函数C(L,K)的计算。