发明名称 用于捕捉瑕疵资料之装置及方法
摘要 本发明系提供一种用于像是扫描器之影像捕捉装置之系统,以正确地识别出在物件中的瑕疵。该些物件可以是将被捕捉的实际影像、或像是平台与反射镜的影像捕捉装置的元件。该等影像捕捉装置可接着利用此瑕疵资讯来从所捕捉到的影像移去瑕疵。本发明系教示一种照明与感测器元件之有利的配置在一个角度大致等于光线被导向一个物件之角度下,亦即其中在反射的角度大致等于入射的角度下,以记录瑕疵资料。从表面瑕疵反射出的光线拥有较宽的散射,因而具有比从该物件本身的表面反射出的光线低的振幅。于是,此项特征可被利用来识别出瑕疵资讯。影像捕捉装置可以利用此项瑕疵资讯于软体应用程式中,其系以数学演算法来藉由移去对应到瑕疵的资讯来强化所捕捉到的影像。
申请公布号 TW462183 申请公布日期 2001.11.01
申请号 TW089101941 申请日期 2000.02.03
申请人 应用科学公司 发明人 马丁 钵土赛克;亚伯D. 爱得格;达瑞尔R. 波克
分类号 H04N1/409;H04N1/00 主分类号 H04N1/409
代理机构 代理人 林镒珠 台北市长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种用以再生一位在一媒体表面之上的影像之 一部份的方法,其系包含步骤有: 以一发送在相对于该媒体表面之第一预设的角度 下之第一光束照明影像之一部份; 检测该第一光束以获得影像媒体资料; 以一发送在相对于该媒体表面之第二预设的角度 下之第二光束照明该影像之该部份; 在该第二光束反射离开该影像之该部份之后,检测 该第二光束以获得瑕疵资料,其中在相对于该媒体 表面之第三预设的角度下反射之反射出的第二光 线系被检测,介于该第二预设的角度以及该第三预 设的角度之间的差値系大约为20度或更小;并且 利用该影像媒体资料以及该瑕疵资料来再生该影 像之该部分。2.如申请专利范围第1项之方法,其中 介于该第一预设的角度以及该第三预设的角度之 间的差値系大约为10度或更小。3.如申请专利范围 第1项之方法,其中该第一光束系反射离开该该媒 体表面,并且该检测该第一光束的步骤系检测该反 射出的第一光束。4.如申请专利范围第1项之方法, 其中该第一光束系透射过该媒体表面,并且该检测 该第一光束的步骤系检测已经透射过该媒体表面 之第一光束。5.如申请专利范围第1项之方法,其中 该检测该第二光束的步骤系包含步骤有: 利用一光学组件聚焦该反射出的第二光束以获得 一聚焦后之反射出的第二光束;并且 检测该聚焦后之反射出的第二光束。6.如申请专 利范围第1项之方法,其更包括有在该检测该第二 光束的步骤之前,利用一反射镜导引该第二光束反 射离开该媒体之表面的步骤。7.如申请专利范围 第1项之方法,其中该检测该第二光束之步骤系检 测该反射出的第二光束之一部份系为对应到该影 像之该部分含有瑕疵之区域,因为其具有较该检测 出的第二光束之从该影像之该部分不含任何瑕疵 之其它区域反射出的其部分为低的强度。8.如申 请专利范围第1项之方法,其中该第二预设的角度 是在35-145的范围之中。9.如申请专利范围第8项 之方法,其中该第二预设的角度是在45-80以及100- 135的范围之中。10.一种用以检测并获得一对应于 存在于位在一媒体表面之上的影像之一部份的瑕 疵之瑕疵资料流的方法,其系包含步骤有: 以一光束照明该影像之该部分;并且 在该光束反射离开该影像之该部分之后,检测该光 束以获得该瑕疵资料流,使得从含有瑕疵之影像的 区域获得之反射出的光线具有较从不含有该瑕疵 之影像的另一区域获得之反射出的光线低的强度, 藉以使得该瑕疵资料流中之所检测出的光线强度 上之变化能够被用来检测出该瑕疵。11.如申请专 利范围第10项之方法,其更包含过滤该瑕疵资料流 使得对应到该反射出的光束具有低于一预设的临 界値之强度的部分之该所检测出的瑕疵置料流之 部分被认定为含有一瑕疵的步骤。12.如申请专利 范围第11项之方法,其中对应到该反射出的光束具 有高于该预设的临界値之强度的其它部分之该所 检测出的瑕疵资料流之其它部分被认定为不含有 瑕疵。13.如申请专利范围第12项之方法,其中该瑕 疵资料流之该其它部分被设定一个指示没有瑕疵 的资料値。14.一种用于产生一复制存在于位在一 媒体表面之上的影像之一部份的瑕疵之瑕疵资料 流之装置,其系包括: 一用于以一光束照明影像之一部份的第一光源,该 光束在相对于该媒体表面之一第一预设的角度下 撞击该影像之该部分;以及 一用于在该光束反射离开该影像之该部分之后,检 测该光束以获得瑕疵资料之检测器,其中该检测器 系检测在相对于该媒体表面之一第二预设的角度 之下反射离开该影像之该部分的反射出之光线,介 于该第一预设的角度以及该第二预设的角度之间 的差値系大约为20度或更小。15.如申请专利范围 第14项之装置,其更包含一用于以一第二光束照明 该影像之该部份的第二光源,该第二光束系在不同 于该第一光源照明该影像之该部份的时间下撞击 该影像之该部份,并且其中该第二光束系被检测以 获得影像资料。16.如申请专利范围第15项之装置, 其更包含至少一个光学元件用于容许该检测器能 够检测该产生该瑕疵资料之光束以及该被用来获 得该影像资料之第二光束两者,其中该被用来获得 该影像资料之第二光束系透射过该媒体表面。17. 如申请专利范围第16项之装置,其中该光学元件是 一反射镜。18.如申请专利范围第14项之装置,其中 该检测器系包含一光学组件以及一电荷耦合元件 阵列。19.如申请专利范围第14项之装置,其更包含 至少一个光学元件用于容许该第一光源也能够以 一第二光束来照明该影像之该部分,该第二光束系 在不同于该光束照明该影像之该部份的时间下撞 击该影像之该部份,并且其中该第二光束系被检测 以获得影像资料。20.如申请专利范围第19项之装 置,其中该光学元件是一反射镜。21.如申请专利范 围第20项之装置,其中该反射镜具有两个位置,其中 之一位置系对应于该第一光源之使用,并且另一位 置系对应于该第二光源之使用,并且其中该反射镜 的位置系利用一微控制器来加以控制。图式简单 说明: 第一图系描绘一种习知的平台式扫描器; 第二图系描绘根据本发明之一种用于识别出例如 是文件之反射的媒体中之瑕疵资料的装置; 第三图系描绘根据本发明之光线在一个影像扫描 周期期间,较佳的是要如何被提供与反射; 第四图系描绘根据本发明之光线在一个瑕疵扫描 周期期间,较佳的是要如何被提供与反射; 第五图系描绘根据本发明之第三图的相对位置是 如何提供用于捕捉在影像的一个区域内之瑕疵的 存在与否; 第六图是描绘根据本发明瑕疵的存在与否所产生 的反射光线之相对的振幅较佳的是要如何提供用 于侦测出瑕疵之图; 第七图是描绘根据本发明之一种用于在所捕捉的 影像资料检测出瑕疵之较佳的方法之流程图; 第八图是描绘根据本发明之一种用于捕捉瑕疵资 料并且识别出以及校正所捕捉到的瑕疵之较佳的 方法之流程图; 第九图系描绘另一其中系利用单一光源及/或单一 扫描周期的例示之平台式扫描器的实施例;并且 第十图系描绘根据本发明之另一可用于在例如是 软片的透射式媒体中捕捉瑕疵资料之实施例。
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