发明名称 | 折射计和用于定性及定量测量的方法 | ||
摘要 | 公开了一种传感器设备和相关的方法,用于检测和监视分析物和固定的粘合层的特定粘合。该设备最好包括自动临界角折射率计(22),它具有线性扫描阵列和用于照射一部分线性扫描阵列的光学系统,这种照射取决于淀积在透光元件上的粘合层的折射率。该设备进一步包括流动室(28),用于使分析物和粘合层(51)接触。本发明的优选检测方法一般来说包括:提供临界角折射计以产生击中固定的粘合层的光,使粘合层与接触相(59)接触,测量全反射的临界角,这个测量值表示在分析物和粘合层之间的相互作用是否存在。 | ||
申请公布号 | CN1293757A | 申请公布日期 | 2001.05.02 |
申请号 | CN99803956.X | 申请日期 | 1999.11.12 |
申请人 | 莱卡微系统公司 | 发明人 | T·E·赖安;M·J·拜尼 |
分类号 | G01N21/41;G01N33/543;G01N33/551;G01N33/544 | 主分类号 | G01N21/41 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 卢新华;杨丽琴 |
主权项 | 1、一种利用临界角折射测量原理检测在粘合层上是否存在分析物的方法,该方法包括:提供第一透光元件和第二透光元件,第一透光元件的折射率大于第二透光元件的折射率,第二透光元件具有粘合层;提供接触相;使接触相接触第二透光元件的粘合层;让光穿过第一和第二透光元件,使光击中第二透光元件和粘合层之间的界面上;和探测在检测元件上的亮区和暗区之间的边界的位置,边界的位置表示在粘合层上是否存在配位体。 | ||
地址 | 美国纽约州 |