发明名称 Device and procedure for energy and angle selected electron spectroscopy
摘要 <p>Zur Abbildung eines Teilchenstrahls (108) aus geladenen Teilchen mit einer bestimmten Energie- und Winkelverteilung auf einer Detektoreinrichtung (140) mit einer Vorrichtung (100), die eine Ablenkeinrichtung (120) mit mindestens einer Abbremslinse (121-124), die dazu vorgesehen ist, im Teilchenstrahl (108) im wesentlichen parallele Teilchenbahnen (109) auszubilden, deren gegenseitigen Abstände der Winkelverteilung der Teilchen entsprechen, und eine Filtereinrichtung (130) umfaßt, die zwischen der Ablenkeinrichtung (120) und der Detektoreinrichtung (140) angeordnet ist, wobei die Filtereinrichtung (130) mit einem Potential zur Bildung eines Abbremsfeldes beaufschlagbar und dazu eingerichtet ist, für die Teilchen energieselektiv durchlässig zu sein, ist probenseitig vor der Ablenkeinrichtung (120) ein Eintrittsfenster (111) in Form einer axialsymmetrischen Stufenblende oder eines Eintrittsgitter angeordnet, das von der Ablenkeinrichtung (120) elektrisch getrennt ist und auf Massepotential liegt. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP1063676(A2) 申请公布日期 2000.12.27
申请号 EP20000111394 申请日期 2000.05.26
申请人 STAIB INSTRUMENTE GMBH 发明人 STAIB, PHILIPPE, DR.
分类号 G01N23/20;H01J37/05;H01J37/12;H01J37/244;H01J37/252;H01J37/29;(IPC1-7):H01J37/05 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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