| 发明名称 |
Integrated circuit tester socket |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
US4691975(B1) |
申请公布日期 |
2000.10.31 |
| 申请号 |
US19860921255 |
申请日期 |
1986.10.21 |
| 申请人 |
DAI-ICHI SEIKO KABUSHIKI KAISHA |
发明人 |
FUKUNAGA MASAMI;YAMAGUCHI TOMOYOSHI |
| 分类号 |
H01L23/32;H01R33/76;H05K7/10;(IPC1-7):H01R13/635 |
主分类号 |
H01L23/32 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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