发明名称 Method for quantitative measurement of a substrate
摘要
申请公布号 EP0901018(A3) 申请公布日期 2000.09.13
申请号 EP19980113887 申请日期 1998.07.24
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. 发明人 IKEDA, SHIN;YOSHIOKA, TOSHIHIKO;NANKAI, SHIRO
分类号 G01N27/327;C12Q1/00;C12Q1/26;(IPC1-7):G01N33/48 主分类号 G01N27/327
代理机构 代理人
主权项
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