| 发明名称 |
METHOD FOR MEASURING PIEZOELECTRIC CONSTANT OF THIN FILM SHAPED PIEZOELECTRIC MATERIAL |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100240603(B1) |
申请公布日期 |
2000.01.15 |
| 申请号 |
KR19970075138 |
申请日期 |
1997.12.27 |
| 申请人 |
DAEWOO ELECTRONICS CO.,LTD |
发明人 |
KIM, DONG-GUK |
| 分类号 |
G01L9/08;(IPC1-7):G01L9/08 |
主分类号 |
G01L9/08 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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