发明名称 Semiconductor fabrication line with contamination preventing function
摘要 <p>반도체 장치를 제조하기 위한 반도체 제조 라인은, 상기 반도체 장치를 제조하는 반도체 제조 공정을 실행하기 위한 메인 스트림 라인과; 반도체 제조 라인에서 메인 스트림 라인으로부터 분리 배치된 분리 라인을 포함한다. 분리 라인은 반도체 제조 공정 중에서, 메인 스트림 라인의 오염을 일으킬 수 있는 재료가 웨이퍼의 표면상에 나타나게 하는 오염을 포함하는 반도체 제조 공정을 위해 제공되고, 분리 라인에서 웨이퍼의 표면으로부터 오염을 일으키는 재료를 제거하는 처리 이후에, 웨이퍼는 분리 라인에서 메인 스트림 라인으로 복귀된다.</p>
申请公布号 KR19990078434(A) 申请公布日期 1999.10.25
申请号 KR19990011155 申请日期 1999.03.31
申请人 null, null 发明人 오타나호미
分类号 H01L21/00;H01L21/02;H01L21/677 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人
主权项
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