| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INSPECTION DEVICE AND TESTING METHOD USING THE SAME |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11258316(A) |
申请公布日期 |
1999.09.24 |
| 申请号 |
JP19980057203 |
申请日期 |
1998.03.09 |
| 申请人 |
SEIKO EPSON CORP |
发明人 |
YOSHIZAWA KAZUO;SANO MASATOSHI |
| 分类号 |
G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/319 |
主分类号 |
G01R31/319 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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